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產品詳細頁

Thorlabs保偏光纖跳線，FC/APC接頭

產品型號：
更新時間：2023-12-19
產品介紹：Thorlabs保偏光纖跳線，FC/APC接頭的兩端都是高質量、窄插銷的陶瓷FC/AFC接頭。由我們的設備生產，每根跳線都在規(guī)格標簽中列出的測試波長進行單獨測試，保證光纖和光纖連接時的消光比和低背反射（回波損耗）。這些跳線有庫存，具有高質量的拋光，可以保證超過60分貝的典型回波損耗。測試數據表格提供了每一根跳線的消光比和插入損耗測試。
廠商性質：代理商
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產品介紹

品牌	Thorlabs	價格區(qū)間	面議
組件類別	光學元件	應用領域	電子/電池

Thorlabs保偏光纖跳線，FC/APC接頭

Thorlabs保偏光纖跳線，FC/APC接頭

保偏光纖跳線特性

窄插頭（2毫米）和慢軸對準

典型的60 dB回波損耗

陶瓷插芯，角度8°
(APC)

Ø3 mm外部保護層

提供定制跳線

這些保偏光纖跳線的兩端都是高質量、窄插銷的陶瓷FC/AFC接頭。由我們的設備生產，每根跳線都在規(guī)格標簽中列出的測試波長進行單獨測試，保證光纖和光纖連接時的消光比和低背反射（回波損耗）。這些跳線有庫存，具有高質量的拋光，可以保證超過60分貝的典型回波損耗。測試數據表格提供了每一根跳線的消光比和插入損耗測試。

每條跳線都帶有兩個罩在終端的保護帽，防止灰塵或它污染物落入插芯端面。我們也單獨銷售保護FC/PC終端CAPF塑料光纖帽和CAPFM金屬螺紋光纖帽。如果在我們的庫存跳線中沒有找到您合適的產品，Thorlabs還提供可當天發(fā)貨的定制跳線。

FC/APC接頭的插芯，角度為8°

熊貓保偏光纖橫截面

PM Fiber Patch Cable Selection Guide

FC/PC to FC/PC

FC/APC to FC/APC

FC/PC to FC/APC Hybrid

AR-Coated FC/PC and Hybrid

HR-Coated FC/PC and FC/APC

規(guī)格：

Item Prefix	P3-405BPM-FC	P3-488PM-FC	P3-630PM-FC	P3-780PM-FC	P3-980PM-FC
Test Wavelength	405 nm	488 nm	630 nm	780 nm	980 nm
Operating Wavelength	400 - 680 nm	460 - 700 nm	620 - 850 nm	770 - 1100 nm	970 - 1550 nm
Cutoff Wavelength	380 ± 20 nm	420 ± 30 nm	570 ± 50 nm	710 ± 60 nm	920 ± 50 nm
Fiber Type	PM-S405-XP(Panda)	PM460-HP(Panda)	PM630-HP(Panda)	PM780-HP(Panda)	PM980-XP(Panda)
Max Insertion Loss^a	1.5 dB	1.5 dB	1.2 dB	1.0 dB	0.7 dB
Min Extinction Ratio^a	15 dB	18 dB	20 dB	20 dB	22 dB
Mode Field Diameter^b	3.6 ± 0.5 µm @ 405 nm	3.4 µm @ 488 nm	4.2 µm @ 630 nm	4.9 µm @ 780 nm	6.6 ± 0.5 µm @ 980 nm
Optical Return Loss^a	60 dB Typical
Connector Type	FC/APC
Key Width	2.00 ± 0.02 mm
Key Alignment Type	Narrow Key Aligned to Slow Axis
Fiber Length	1.0 +0.075/-0 m for Item Numbers Ending in -12.0 +0.075/-0 m for Item Numbers Ending in -25.0 +0.075/-0 m for Item Numbers Ending in -510.0 +0.075/-0 m for Item Numbers Ending in -10
Jacket Type	FT030-BLUE
Operating Temperature	0 to 70 °C
Storage Temperature	-45 to 85 °C

測試波長測得。

模場直徑(MFD)為標準值。近場處功率1/e²位置處的直徑。

數值孔徑(NA)為標準值。

Item Prefix	P3-1064PM-FC	P3-1310PM-FC	P3-1550PM-FC	P3-2000PM-FC
Test Wavelength	1064 nm	1310 nm	1550 nm	2000 nm
Operating Wavelength	970 - 1550 nm	1270 - 1625 nm	1440 - 1625 nm	1850 - 2200 nm
Cutoff Wavelength	920 ± 50 nm	1210 ± 60 nm	1380 ± 60 nm	1720 ± 80 nm
Fiber Type	PM980-XP(Panda)	PM1300-XP(Panda)	PM1550-XP(Panda)	PM2000(Panda)
Max Insertion Loss^a	0.7 dB	0.5 dB	0.5 dB	0.5 dB
Min Extinction Ratio^a	22 dB	23 dB	23 dB	23 dB
Mode Field Diameter^b	7.7 µm @ 1064 nm	9.3 ± 0.5 µm @ 1300 nm	10.1 ± 0.4 µm @ 1550 nm	8.6 µm @ 2000 nm
Optical Return Loss^a	60 dB Typical
Connector Type	FC/APC
Key Width	2.00 mm ± 0.02
Key Alignment Type	Narrow Key Aligned to Slow Axis
Fiber Length	1.0 +0.075/-0 m for Item Numbers Ending in -12.0 +0.075/-0 m for Item Numbers Ending in -25.0 +0.075/-0 m for Item Numbers Ending in -510.0 +0.075/-0 m for Item Numbers Ending in -10
Jacket Type	FT030-BLUE
Operating Temperature	0 to 70 °C
Storage Temperature	-45 to 85 °C

測試波長測得。

模場直徑(MFD)為標準值。近場處功率1/e²位置處的直徑。

數值孔徑(NA)為標準值。

鍵槽對準

FC/PC和FC/APC跳線鍵槽對準

FC/PC和FC/APC跳線帶有2.0 mm窄鍵或2.2
mm寬鍵，可以插入匹配元件對應的槽中。鍵槽對準對于正確對齊所連光纖跳線的纖芯關重要，能夠大程度地減少連接的插入損耗。

例如，Thorlabs精心設計和制造用于FC/PC和FC/APC終端跳線的匹配套管，以確保正確使用時能夠實現良好的對準。為了達到佳對準，需將跳線上的對準鍵插入對應匹配套管上的槽中。Thorlabs提供帶有2.2 mm寬鍵槽或2.0 mm窄鍵槽的匹配套管。

寬鍵槽匹配套管2.2 mm寬鍵槽匹配套管兼容寬鍵和窄鍵接頭。但是，將窄鍵接頭插入寬鍵槽時，接頭可在匹配套管內輕微旋轉(如左下方的動畫所示)。這種配置對于FC/PC接頭的跳線是可以接受的，但對于FC/APC應用，我們還是建議使用窄鍵槽匹配套管，以實現優(yōu)對準。

窄鍵槽匹配套管2.0 mm窄鍵槽匹配套管能夠實現帶角度窄鍵FC/APC接頭的良好對準，如右下方的動畫所示。因此，它們不兼容具有2.2 mm寬鍵的接頭。請注意，Thorlabs制造的所有FC/PC和FC/APC跳線都使用窄鍵接頭。

寬鍵匹配套管和接頭之間的匹配

窄鍵匹配套管和接頭之間的匹配

寬鍵槽匹配套管和窄鍵接頭窄鍵接頭插入寬鍵槽匹配套管之后，接頭還有旋轉空間。對于窄鍵FC/PC接頭而言，這一點可以接受，但對于窄鍵FC/APC接頭而言，這會產生很大的耦合損耗。

損傷閥值

激光誘導的光纖損傷

以下教程詳述了無終端(裸露的)、有終端光纖以及其他基于激光光源的光纖元件的損傷機制，包括空氣-玻璃界面(自由空間耦合或使用接頭時)的損傷機制和光纖玻璃內的損傷機制。諸如裸纖、光纖跳線或熔接耦合器等光纖元件可能受到多種潛在的損傷(比如，接頭、光纖端面和裝置本身)。光纖適用的大功率始終受到這些損傷機制的小值的限制。

雖然可以使用比例關系和一般規(guī)則估算損傷閾值，但是，光纖的損傷閾值在很大程度上取決于應用和特定用戶。用戶可以以此教程為指南，估算大程度降低損傷風險的安全功率水平。如果遵守了所有恰當的制備和適用性指導，用戶應該能夠在的大功率水平以下操作光纖元件；如果有元件并未大功率，用戶應該遵守下面描述的"實際安全水平"該，以安全操作相關元件?？赡芙档凸β蔬m用能力并給光纖元件造成損傷的因素包括，但不限于，光纖耦合時未對準、光纖端面受到污染或光纖本身有瑕疵。關于特定應用中光纖功率適用能力的深入討論，請聯系技術支持techsupport-cn@thorlabs.com。

Quick Links

Damage at the Air / Glass Interface

Intrinsic Damage Threshold

Preparation and Handling of Optical Fibers

空氣-玻璃界面的損傷

空氣/玻璃界面有幾種潛在的損傷機制。自由空間耦合或使用光學接頭匹配兩根光纖時，光會入射到這個界面。如果光的強度很高，就會降低功率的適用性，并給光纖造成性損傷。而對于使用環(huán)氧樹脂將接頭與光纖固定的終端光纖而言，高強度的光產生的熱量會使環(huán)氧樹脂熔化，進而在光路中的光纖表面留下殘留物。

損傷的光纖端面

未損傷的光纖端面

裸纖端面的損傷機制

Estimated Optical Power Densities on Air / Glass Interface^a
Type	Theoretical Damage Threshold^b	Practical Safe Level^c
CW(Average Power)	~1 MW/cm²	~250 kW/cm²
10 ns Pulsed(Peak Power)	~5 GW/cm²	~1 GW/cm²

所有值針對無終端(裸露)的石英光纖，適用于自由空間耦合到潔凈的光纖端面。

這是可以入射到光纖端面且沒有損傷風險的大功率密度估算值。用戶在高功率下工作前，必須驗證系統(tǒng)中光纖元件的性能與可靠性，因其與系統(tǒng)有著緊密的關系。

這是在大多數工作條件下，入射到光纖端面且不會損傷光纖的安全功率密度估算值。

插芯/接頭終端相關的損傷機制

有終端接頭的光纖要考慮更多的功率適用條件。光纖一般通過環(huán)氧樹脂粘合到陶瓷或不銹鋼插芯中。光通過接頭耦合到光纖時，沒有進入纖芯并在光纖中傳播的光會散射到光纖的外層，再進入插芯中，而環(huán)氧樹脂用來將光纖固定在插芯中。如果光足夠強，就可以熔化環(huán)氧樹脂，使其氣化，并在接頭表面留下殘渣。這樣，光纖端面就出現了局部吸收點，造成耦合效率降低，散射增加，進而出現損傷。

與環(huán)氧樹脂相關的損傷取決于波長，出于以下幾個原因。一般而言，短波長的光比長波長的光散射更強。由于短波長單模光纖的MFD較小，且產生更多的散射光，則耦合時的偏移也更大。

為了大程度地減小熔化環(huán)氧樹脂的風險，可以在光纖端面附近的光纖與插芯之間構建無環(huán)氧樹脂的氣隙光纖接頭。我們的高功率多模光纖跳線就使用了這種設計特點的接頭。

曲線圖展現了帶終端的單模石英光纖的大概功率適用水平。每條線展示了考慮具體損傷機制估算的功率水平。大功率適用性受到所有相關損傷機制的低功率水平限制(由實線表示)。

光纖內的損傷閾值

除了空氣玻璃界面的損傷機制外，光纖本身的損傷機制也會限制光纖使用的功率水平。這些限制會影響所有的光纖組件，因為它們存在于光纖本身。光纖內的兩種損傷包括彎曲損耗和光暗化損傷。

彎曲損耗

光在纖芯內傳播入射到纖芯包層界面的角度大于臨界角會使其無法全反射，光在某個區(qū)域就會射出光纖，這時候就會產生彎曲損耗。射出光纖的光一般功率密度較高，會燒壞光纖涂覆層和周圍的松套管。

有一種叫做雙包層的特種光纖，允許光纖包層(第二層)也和纖芯一樣用作波導，從而降低彎折損傷的風險。通過使包層/涂覆層界面的臨界角高于纖芯/包層界面的臨界角，射出纖芯的光就會被限制在包層內。這些光會在幾厘米或者幾米的距離而不是光纖內的某個局部點漏出，從而大限度地降低損傷。Thorlabs生產并銷售0.22 NA雙包層多模光纖，它們能將適用功率提升百萬瓦的范圍。

光暗化

光纖內的第二種損傷機制稱為光暗化或負感現象，一般發(fā)生在紫外或短波長可見光，尤其是摻鍺纖芯的光纖。在這些波長下工作的光纖隨著曝光時間增加，衰減也會增加。引起光暗化的原因大部分未可知，但可以采取一些列措施來緩解。例如，研究發(fā)現，羥基離子(OH)含量非常低的光纖可以抵抗光暗化，其它摻雜物比如氟，也能減少光暗化。

即使采取了上述措施，所有光纖在用于紫外光或短波長光時還是會有光暗化產生，因此用于這些波長下的光纖應該被看成消耗品。

制備和處理光纖

通用清潔和操作指南

建議將這些通用清潔和操作指南用于所有的光纖產品。而對于具體的產品，用戶還是應該根據輔助文獻或手冊中給出的具體指南操作。只有遵守了所有恰當的清潔和操作步驟，損傷閾值的計算才會適用。

安裝或集成光纖(有終端的光纖或裸纖)前應該關掉所有光源，以避免聚焦的光束入射在接頭或光纖的脆弱部分而造成損傷。

光纖適用的功率直接與光纖/接頭端面的質量相關。將光纖連接到光學系統(tǒng)前，一定要檢查光纖的末端。端面應該是干凈的，沒有污垢和其它可能導致耦合光散射的污染物。另外，如果是裸纖，使用前應該剪切，用戶應該檢查光纖末端，確保切面質量良好。

如果將光纖熔接到光學系統(tǒng)，用戶先應該在低功率下驗證熔接的質量良好，然后在高功率下使用。熔接質量差，會增加光在熔接界面的散射，從而成為光纖損傷的來源。

對準系統(tǒng)和優(yōu)化耦合時，用戶應該使用低功率；這樣可以大程度地減少光纖其他部分(非纖芯)的曝光。如果高功率光束聚焦在包層、涂覆層或接頭，有可能產生散射光造成的損傷。

高功率下使用光纖的注意事項

一般而言，光纖和光纖元件應該要在安全功率水平限制之內工作，但在理想的條件下(及佳的光學對準和非常干凈的光纖端面)，光纖元件適用的功率可能會增大。用戶先必須在他們的系統(tǒng)內驗證光纖的性能和穩(wěn)定性，然后再提高輸入或輸出功率，遵守所有所需的安全和操作指導。以下事項是一些有用的建議，有助于考慮在光纖或組件中增大光學功率。

要防止光纖損傷光耦合進光纖的對準步驟也是重要的。在對準過程中，在取得佳耦合前，光很容易就聚焦到光纖某部位而不是纖芯。如果高功率光束聚焦在包層或光纖其它部位時，會發(fā)生散射引起損傷

使用光纖熔接機將光纖組件熔接到系統(tǒng)中，可以增大適用的功率，因為它可以大程度地減少空氣/光纖界面損傷的可能性。用戶應該遵守所有恰當的指導來制備，并進行高質量的光纖熔接。熔接質量差可能導致散射，或在熔接界面局部形成高熱區(qū)域，從而損傷光纖。

連接光纖或組件之后，應該在低功率下使用光源測試并對準系統(tǒng)。然后將系統(tǒng)功率緩慢增加到所希望的輸出功率，同時周期性地驗證所有組件對準良好，耦合效率相對光學耦合功率沒有變化。

由于劇烈彎曲光纖造成的彎曲損耗可能使光從受到應力的區(qū)域漏出。在高功率下工作時，大量的光從很小的區(qū)域(受到應力的區(qū)域)逃出，從而在局部形成產生高熱量，進而損傷光纖。請在操作過程中不要破壞或突然彎曲光纖，以盡可能地減少彎曲損耗。

用戶應該針對給定的應用選擇合適的光纖。例如，大模場光纖可以良好地代替標準的單模光纖在高功率應用中使用，因為前者可以提供更佳的光束質量，更大的MFD，且可以降低空氣/光纖界面的功率密度。

階躍折射率石英單模光纖一般不用于紫外光或高峰值功率脈沖應用，因為這些應用與高空間功率密度相關。

405納米保偏FC/APC光纖跳線：熊貓型

Fiber Type	OperatingWavelength	CutoffWavelength	Min ExtinctionRatio	Max InsertionLoss	MFD^a	Jacket
PM-S405-XP (Panda)	400 - 680 nm	380 ± 20 nm	15 dB	1.5 dB	3.6 ± 0.5 µm @ 405 nm	FT030-BLUE (Ø3 mm)